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光谱对焦测厚系统 SFS系列

bc.game有限公司官网光谱对焦测厚系统，双光谱相比单向丈量精度更高，不变量测各类材质，测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化丈量利用

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光谱对焦测厚系统 SFS系列

 

产品简介

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bc.game有限公司官网光谱对焦测厚系统，双光谱相比单向丈量精度更高，不变量测各类材质，测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化丈量利用

 

 

产品优势

——

 

1、不变量测各类材质,例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等；

2、合用于各类工件描摹（蕴含深孔/斜面/弧面）之特点尺寸量测，例如高度/段差/厚度/平面度/概括度等；

3、高温高压等严苛操作前提下亦能正常使用；

4、测头结构轻巧，易整合于各行业之自动化丈量利用。

 

 

利用领域

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◆ 手机，平板，电脑等金属机壳机加造作业
◆ PCB板，衔接器，IC芯片等电子业
◆ 面板，玻璃，钢化膜等行业
◆ 半导体晶圆，绿能，光伏等行业

 

 

产品案例

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产品参数

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