点光谱共焦丈量显微系统 SFS-M1100
点光谱共焦丈量显微系统适合于丈量高度、平面度、段差、概括度、厚度等特色职能：显微镜高速自动对焦测利用，是一种可达次级微米级的非接触式位移量测系统
点光谱共焦丈量显微系统 SFS-M1100
产品介紹
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点光谱共焦丈量显微系统是一种可达次级微米级的非接触式位移量测系统，对于表表漫反射或镜反射之物体甚至通明材质皆可丈量其位移或厚度，基于出光与回传讯号蹊径同轴之特徵，点光谱共焦丈量显微系统亦适合于深孔/盲孔工件的量测利用 。
产品特点
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1. 物镜能够选用独立接口，也能够选用6孔鼻轮模组衔接；
2. 对国内表主流物镜均可适配；
3. 光谱共焦？榻峁辜蚪，丈量精度高、速度快；
4. 最适合对观测面反射率高的表表使用，对通明物体表表同样合用；
5. 光谱共焦？檎闪坑胫鞒上窆饴饭仓，不存在遮挡问题，且对焦检测光斑幼，能够对槽、孔、凹坑等区域精准丈量；
6. 支持微分过问观测方式；
7. 能够与活动节造单元整合实现高速精准对焦 。
利用领域
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宽泛利用于电子、半导体、面板、设备等行业 。丈量高度、段差、厚度、平面度，玻璃、陶瓷、镜面金属的概括，如手机、PCB、钢化玻璃屏幕；つぁ氲继寰 。
产品尺寸展示
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产品参数展示
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